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                    產品資料

                    鏡片反射率測定儀

                    如果您對該產品感興趣的話,可以
                    產品名稱: 鏡片反射率測定儀
                    產品型號: USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀
                    產品展商: 奧林巴斯
                    產品文檔: 無相關文檔

                    簡單介紹

                    近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W 可以高速&高精細地進行可視光區域至近紅外區域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區域、曲面的反射率,因此*適用于光學元件與微小的電子部件等產品。


                    鏡片反射率測定儀  的詳細介紹

                    奧林巴斯的USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀可以高速&高精細地進行可視光區域至近紅外區域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區域、曲面的反射率,因此*適用于光學元件與微小的電子部件等產品。
                    實的測定功能
                    使用一臺即可進行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定。

                    ◆測定反射率
                    測定以物鏡聚光φ17~70μm的微小點的反射率。

                    ◆測定膜厚
                    活用反射率數據,測定約50nm~約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。

                    ◆測定物體顏色
                    根據反射率數據顯示XY色度圖、L*a*b色度圖及相關數值。

                    ◆測定透過率
                    從受臺下部透過φ2mm的平行光,測定平面樣品的透過率。(選配)

                    ◆測定入射角為45度的反射率
                    從側面向45度面反射φ2mm的平行光,測定其反射率。(選配)


                    域的高精度&高速測定

                    ◆實現高速測定
                    使用平面光柵及線傳感器進行全波長同時分光測定,從而實現高速測定。

                    ◆*適用于測定細小部件、鏡片的反射率
                    新設計了可以在φ17~70μm的測定區域中進行非接觸測定的專用物鏡。通常的分光光度計不能進行測定的細小電子部件或鏡片等的曲面,也可以實現再現性很高的測定。

                    ◆測定反射率時,不需要背面防反射處理
                    將專用物鏡與環形照明組合,不需要進行被檢測物背面的防反射處理,就可測定*薄0.2mm的反射率*。

                    ◆可選擇的膜厚測定方法

                    根據測定的分光反射率數據進行單層膜或多層膜的膜厚解析??梢愿鶕猛具x擇*佳的測定方法。


                    近紅外顯微分光測定儀 USPM-RU-W:規格

                     

                    反射率測定 透過率測定*1 45度反射測定*1
                    名稱 近紅外顯微分光測定儀 近紅外顯微分光測定儀用 
                    透過測定選配件
                    近紅外顯微分光測定儀用 
                    45度反射測定選配件
                    型號 USPM-RU-W
                    測定波長 380~1050nm
                    測定方法 對參照樣品的比較測定 對100%基準的透過率測定 對參照樣品的比較測定
                    測定范圍 參照下列對物鏡的規格 約?2.0mm
                    測定 
                    再現性(3σ)*2
                    反射率測定 使用10×、20×物鏡時 ±0.02[%]以下(430-1010nm)、 
                    ±0.2[%]以下(上述以外)
                    ±1.25[%]以下(430-1010nm)、 
                    ±5.0[%]以下(左側記載除外)
                    使用40×物鏡時 ±0.05[%]以下(430-950nm)、 
                    ±0.5[%]以下(上述以外)

                     

                    厚膜測定 ±1% -
                    波長顯示分解能 1nm
                    照明附件 專用鹵素燈光源  JC12V 55W(平均壽命700h)
                    位移受臺 承載面尺寸:200(W)×200(D)mm   
                    承重:3 kg 
                    工作范圍:(XY) ±40mm, (Z)125mm
                    傾斜受臺 承載面尺寸: 140(W)×140(D)mm 
                    承重: 1 kg 
                    工作范圍:(XT) ±1°, (YT) ±1°
                    裝置質量 主體:約26 kg(PC除外) 主體:約31 kg(PC除外)*3
                    控制電源箱:約6.7kg
                    裝置尺寸 主體部位:360(W)×446(D)×606(H)mm 主體部位:360(W)×631(D)×606(H)mm
                    控制電源箱:250(W)×270(D)×125(H)mm
                    電源規格 輸入規格:100-240V (110VA) 50/60Hz
                    使用環境 水平無振動的場所 
                    溫度:15~30℃ 
                    濕度:15~60%RH(無結露)

                    *1 選件組件  *2 本社測定條件下的測定  *3 裝配透過率測定套件與45度反射測定套件的總重量為33kg。

                    對物鏡
                    型號 USPM-OBL10X USPM-OBL20X USPM-OBL40X
                    倍率 10x 20x 40x
                    NA 0.12 0.24 0.24
                    測定范圍*4 70μm 34μm 17μm
                    工作距離 14.3mm 4.2mm 2.2mm
                    樣品的曲率半徑 ±5mm~ ±1mm~ ±1mm~

                    *4 點徑



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